Ventajas Modo Tapping AFM

Un microscopio es un dispositivo que permite ver objetos muy pequeños. Hoy en día hay muchos tipos diferentes de microscopio y éstos incluyen la óptica , electrónica y el microscopio de fuerza atómica ( AFM ) . La AFM se compone de un voladizo sobre el cual existe una punta afilado atómicamente . Cuando la punta se explora a través de una superficie de la muestra , la fuerza entre la punta y la muestra conduce a la voladizo moviéndose arriba y abajo con la superficie. Modo Tapping AFM

Hay dos modos principales de AFM . El primer modo se conoce como modo de contacto y en esta configuración la punta se arrastró físicamente a través de la superficie de la muestra . Cuando la punta se mueve hacia arriba y hacia abajo en respuesta a las características de la superficie, se detecta la altura a través de un haz de láser reflejada por la superficie en voladizo . En el modo de grabación, la punta no hace contacto con la superficie, sino que oscila hacia arriba y abajo a una altura constante por encima de la superficie. Como la punta lateralmente explora a través de la superficie de la muestra , la fuerza entre la punta y la muestra conduce a un cambio en la amplitud de oscilación que es detectada por un rayo láser se refleja fuera de la superficie en voladizo .
Consejo de Preservación

Modo de contacto implica el arrastre de la punta a través de la superficie de la muestra . Aunque consejos para los modos de contacto son duras, que inevitablemente pueden resultar dañadas si las características de la muestra son abruptos , y consejos que ser sustituido con bastante frecuencia. Tocando consejos modo debe , en principio, nunca hacer contacto con la superficie, y esto significa que la punta tiene una vida útil más larga que los equivalentes del modo de contacto. Desde puntas de AFM son caras , modo de contacto intermitente es el medio más rentable para llevar a cabo los estudios .
Preservación Muestra

Modo de contacto es muy invasivo ya que el punta hace contacto físico con la muestra. Esto puede conducir a un daño de la superficie de la muestra , y a menudo parte del material de la punta será depositado sobre la superficie de la muestra . Modo de tocar no hace contacto con la muestra , y la superficie de la muestra debe permanecer limpio.
Microscopía de Fuerza Magnética

A veces es necesario un mapa de las propiedades magnéticas de una muestra. Cuando una punta magnética hace contacto con la muestra , puede ser difícil de resolver las fuerzas en la punta resultante de magnetismo, y los que sólo desde la topología de la muestra. Desde el magnetismo es una fuerza de largo alcance , mientras que las fuerzas topológicos son de corto alcance , el modo de grabación, que tiene lugar a una altura constante por encima de la superficie de la muestra , permite a la altura y la información magnética a ser separados.